基于 ARS 角分辨技术，快速获取样品的各种角分辨光谱，覆盖微纳光子学、光学薄膜、结构色等研究领域
角分辨光谱是基于ARS角分辨技术的光谱检测手段，可以快速获取样品的各种角分辨光谱。广泛应用于微纳光子学、光学薄膜、结构色、先进显示材料、光子晶体和超构表面等研究领域。
0~360° 变角度 / 250~2500nm 宽谱 / 7种测量模式
采用智能旋转设计，快速实现透反射、散射、辐射等 7 种光谱测量模式。0~360° 变角度测量，覆盖 250~2500nm 宽波谱，适用于微纳光子学、光学薄膜、结构色等研究。
| 角度范围 | 0~360° |
|---|---|
| 波段范围 | 250~2500nm |
| 测量模式 | 7种(透射/反射/散射/辐射等) |
| 设计 | 智能旋转 |
| 角度精度 | 高精度 |
三重分辨 (k+x+ω) / 显微级
首次实现角度 (k) + 空间 (x) + 光谱 (ω) 三重分辨。基于 ARS 角分辨技术，可快速获取样品的各种角分辨光谱。适用于先进显示材料、光子晶体、超构表面等研究。做为一种先进显示应用价值的功能材料，广视角光谱性能是先进显示材料很重要的一个指标之一。
| 分辨维度 | 角度(k) + 空间(x) + 光谱(ω) |
|---|---|
| 空间分辨 | 显微级 |
| 技术 | ARS角分辨 |
| 联用 | 可与显微光谱系统联用 |
超构透镜检测系统，专为超构表面光学元件的性能测试和质量检测设计。